
ns-PLD (@ 193 nm) in HV o atmosfera gassosa reattiva
Daniele M. Trucchi -
DiaTHEMA Lab
SPECIFICHE TECNICHE
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Pressione in alto vuoto < 10-7mbar; pressione parziale con gas inerti o reattivi nel range 0.1 - 100 mbar;
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Laser a eccimeri - ArF (Lambda PhysikCOMPex 102);
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durata del singolo impulso: 30 ns;
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lunghezza d'onda: 193 nm;
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Repetition Rate: 1 - 20 Hz;
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energia del singolo impulso: 0 - 120 mJ;
 
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Sistema multi-target in rotazione con 3 possibili alloggiamenti;
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Riscaldamento del substrato fino a 800 °C;
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Sistema home-made di movimentazione micrometrica del substrato;
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Distanza target-substrato: 3-10 cm;
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Possibilità di effettuare deposizioni plasma-assistite utilizzando un generatore RF da 13.56 MHz (mod. Huttinger PFG 300, potenza max. 300 W).
 
TECNICHE DISPONIBILI
- Pulsed Laser Deposition in HV o atmosfera reattiva
 
CAMPIONI
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Dimensione dei campioni 4 x 4 cm2 (massima), 1 x 1 cm2 (ideale);
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L'integrità meccanica dei campioni è richiesta, in quanto montati in posizione verticale.
 
UTILIZZATO PER
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La deposizione di film sottili di:
- Materiali a base carbonio
 - Semiconduttori (e.g., AlN)
 - Materiali termoelettrici e termoionici (e.g., PbTe, ZnSb)
 - Boruri, carburi e ossidi (e.g., WC)
 - Leghe
 
 
ESEMPI APPLICATIVI
Carbon nitride films by RF plasma assisted PLD: Spectroscopic and electronic analysis
- I film sottili di nitruro di carbonio (CNx) sono stati cresciuti su Si <100> mediante ablazione con laser ns-ArF (193 nm) su un bersaglio di grafite pura, in un plasma di N2 a bassa pressione generato con RF, e sono stati confrontati con campioni cresciuti con PLD in atmosfera di azoto puro.
Si veda: E. Cappelli et al. Appl. Surf. Sci. 257 (2011) 5175-5180 


ZnSb-based thin films prepared by ns-PLD for thermoelectric applications
Film sottili nanostrutturati a base di ZnSb sono stati prodotti tramite Pulsed Laser Deposition (PLD) utilizzando un laser ns-ArF (193 nm) e un sistema di deposizione multi-target. I film sono stati preparati secondo una struttura multi-layer, ottenuta aggiungendo diversi droganti (Cr, Ag) all'interno della matrice di ZnSb.
Si veda: A. Bellucci et al., Appl. Surf. Sci. 418 (2017) 589-593
				
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